清华大学深圳研究生院第二届表面分析技术研讨会暨XPS高阶应用培训班 | 第一轮通知

表面分析技术被广泛的应用于材料研究中，包括多项国家重视且在国际中的重要应用，如有机发光体(OLED)、太阳能电池、锂电池、燃料电池、石墨稀、食品包装安全等等的项目上，不同领域的材料研究都需要使用到表面分析的手段去改善和增进其性能与安全性。表面分析技术中光电子能谱(XPS)、紫外光光电子能谱(UPS)和Tof-SIMS飞行时间二次离子质谱分别可以提供材料上的关键信息。在XPS的分析能力上，高空间分辨(<10um)能力在现今研究上显然非常重要，而再配合上团簇离子源，更可以几乎无损的离子溅射以达到多层有机结构材料的深度分析，推进了表面分析的技术和应用范围。此外，XPS配备上样品传输管可以让样品在大气以外的环境传递，极大的解决了如锂电池等的气敏样品在分析之前已经改质的问题。XPS配备上UPS也可以提供样品在价带谱中非常重要的资讯，而Tof-SIMS作为在中国相对比较新的分析技术，更可以带给我们更广的材料讯息以至获得更多的科研成果。

本次会议由清华大学深圳研究生院材料与器件检测中心主办，ULVAC-PHI公司和其在中国的代表公司PHI (China) 高德英特(北京)科技有限公司、先进电池与材料产学研技术创新联盟共同协办，深圳市清新电源研究院承办。研讨会邀请了ULVAC-PHI原厂科学家对表面分析最新的技术和应用作出讲解，并邀请了各材料领域的专家进行现场交流。以下为本次研讨会的详细安排。

2018年3月22日上午9:00 至下午18:00

2018年3月23日上午9:00 至 下午17:00

地址：清华大学深圳研究生院能源环境大楼一楼报告厅

– XPS 光电子能谱原理及其特性在分析结果上的影响

– XPS实验技巧及如何获得正确和最优的数据

– XPS 数据处理高级培训（光电材料、储能材料、生物材料等领域）

– 分峰拟合、最小二乘法，目标因子法等在XPS数据处理的应用

– UPS紫外光谱实验方法及数据处理与及其应用实例

– 如何利用多个数据库协助XPS的数据处理

– Tof-SIMS 飞行时间二次离子质谱原理及强大应用

– MSMS Tof 串联质谱带来在 Tof-SIMS 表面分析技术的突破

– Tof-SIMS Tandem MS的广大应用能力与例子

Dr. Hsun-Yun Chang 张熏匀

科学家,分析实验室, ULVAC-PHI.Inc.

Email: Hsun-yun_chang@ulvac.com

张熏匀博士在2015年于台湾中央研究院与清华大学之国际研究生学程取得博士学位。于博士攻读期间，专攻于飞行时间二次离子质谱仪于生物领域的应用, 以及光电子能谱与俄歇电子能谱上多种光电相关的应用。并多次与其他机构进行表面分析技术之合作计划，合作对象包含美国西储大学、台湾大学医学院、清华大学等等，涉及范围包含生物样品与材料、OLED、太阳能电池等的表面分析。毕业后在中央研究院进行博士后研究一年，即进入日本ULVAC-PHI公司工作。在ULVAC-PHI担任分析实验室科学家，负责飞行时间二次离子质谱仪(ToF-SIMS)与X射线光电子能谱仪(XPS)的相关研究, 应用示范及培训等等。

Mr. Wensly Yip 叶上远

高德英特中国区执行总监

PHI (China) Limited 高德英特(北京)科技有限公司

Email: wensly.yip@coretechint.com

Mr. Wensly毕业于南非开普敦大学电动与电子工程学系，拥有超过15年在表面分析相关领域的经验，当中包括在ULVAC-PHI日本总公司工作，曾经参与了ULVAC-PHI表面分析仪器的详细仪器设计与开发，表面分析应用的技巧训练，系统的售后服务包括仪器安装、故障诊断和优化以达到分析应用上和用户使用的最大需求。此外，Wensly也负责对包括半导体，硬盘媒体，电子封装业，大学和研发研究机构客户和用户提供现场操作和高级的应用训练与支持。Wensly曾在亚洲各个地区如中国大陆、台湾、新加坡、泰国、菲律宾和马来西亚等地主讲过多次的应用研讨会及包括对AES、XPS和Tof-SIMS基本原理与高阶应用相关的用户培训，并给各种工业用户在样品分析上提供支援和培训。目前，Wensly为高德公司在中国区的销售和售后部的总执行总监，擅长包括X射线光电子能谱仪（XPS），俄歇电子能谱（AES）和飞行时间二次离子质谱（TOF-SIMS）相关的表面分析技术。

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