透射电子显微镜（TEM）是一种高分辨率、高放大倍数的显微镜, 使用TEM可以观察样品的精细结构，甚至可以用于观察仅仅一列原子的结构，TEM的优质性能使其成为物理学、生物学、材料科学等相关科学领域的重要分析方法，可应用于如癌症研究、病毒学、材料科学、以及纳米技术、半导体研究等方面，成为探索客观物质世界微观结构奥秘的强有力的手段。
为加强深圳及周边地区从事透射电子显微镜研究和应用的相关科研院所和企业之间的交流，促进透射电子显微分析新方法、新技术的推广和应用。2018年1月6日在清华大学深圳研究生院召开“透射电镜分析及样品制备技术交流会”。本次技术交流会由清华大学深圳研究生院材料与器件检测中心主办，先进电池与材料产学研技术创新联盟、飞雅贸易（上海）优先公司、科扬国际贸易（上海）有限公司、广州领拓仪器科技有限公司、以及徕卡显微系统（上海）贸易有限公司共同协办。邀请了来自广东省及深圳市在先进电池及新能源材料研究有代表性的科研机构和相关技术人员参与交流，参会人数超过150余人。
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清华大学深圳研究生院材料与器件检测中心（以下简称中心）2008年正式成立，2013年通过中国合格评定国家认可委员会（CNAS）认可，2016年获得加拿大标准协会（CSA)授权。目前，中心拥有微区分析、谱学分析、理化分析、电池测试分析四大技术平台。各平台拥有完善的检测设备，总价值逾9000万元。中心拥有FEI TecnaiG2 F30场发射透射电子显微镜和TecnaiG2 Spirit120kV透射电子显微镜，可为广大科研者和企业提供高质量TEM检测分析服务。
检测联系方式
联系人：耿老师
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供 稿丨深圳市清新电源研究院
部 门丨媒体信息中心科技情报部
撰稿人丨艳兰
主 编丨张哲旭
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